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FLIR X6980-HS InSb 高速中波科研热像仪

FLIR X6980-HS InSb 面向高速热分析和自定义辐射测量,集成 640×512 制冷型 InSb 探测器及全画幅最高 1004 Hz 采集能力。

主要规格

温度范围
-20°C 至 3000°C(按配置)
品牌
FLIR
基本精度
≤100°C:±2°C;>100°C:±2%
型号
X6980-HS InSb
SKU: FLIR-X6980-HS-INSB 分类:

描述

产品概述

FLIR X6980-HS InSb 用于爆炸、燃烧、航空航天和高速材料响应等短时热事件研究。相机提供 640×512 分辨率、全画幅 1004 Hz、精确触发与 IRIG 时间戳,并可通过 10 GigE、CoaXPress 2.1 或 Camera Link 传输高速数据。

核心特点

  • 640×512 制冷型 InSb 探测器,典型 NETD 20 mK
  • 全画幅帧率最高 1004 Hz,积分时间低至 270 ns
  • 支持 10 GigE、CoaXPress 2.1 和 Camera Link Full
  • 四位置电动滤光轮、精确触发同步和 IRIG 时间戳

典型应用

  • 爆炸、燃烧和高速材料响应研究
  • 航空航天和试验场高速热分析
  • 工业研发与高速目标辐射测量

技术参数

红外分辨率 640 × 512
探测器 制冷型 InSb
光谱范围 1.5 µm 至 5.0 µm
全画幅帧率 最高 1004 Hz
热灵敏度 典型 20 mK
接口 10 GigE、CoaXPress 2.1、Camera Link Full

选型与询价

询价时请提供检测对象、温度或频率范围、工作距离、视场范围、现场环境、镜头与接口需求、软件、认证、数量及期望交期,以便核对完整订货型号和配置。

常见问题

FLIR X6980-HS InSb 适合哪些应用?

主要用于爆炸、燃烧和高速材料响应研究、航空航天和试验场高速热分析、工业研发与高速目标辐射测量。实际适用性需结合检测对象、距离、视场、温度或频率范围及现场认证要求确认。

FLIR X6980-HS InSb 询价时需要确认什么?

询价时请提供检测对象、温度或频率范围、工作距离、视场范围、现场环境、镜头与接口需求、软件、认证、数量及期望交期,以便核对完整订货型号和配置。

资料说明:页面参数根据公开技术资料整理。不同地区、版本和选件可能存在差异,最终配置与供货信息以正式报价资料为准。

其他信息

温度范围

-20°C 至 3000°C(按配置)

品牌

FLIR

基本精度

≤100°C:±2°C;>100°C:±2%

型号

X6980-HS InSb

光谱范围

1.5 µm 至 5 µm

类型

高速中波科研级热像仪

帧频

全画幅最高 1004 Hz

应用

工业研发与高速目标辐射测量, 爆炸、燃烧和高速材料响应研究, 航空航天和试验场高速热分析

热灵敏度

典型 20 mK

探测器分辨率

640 × 512

探测器类型

制冷型 InSb

采样率

最高 1004 Hz

接口

10 GigE、CoaXPress 2.1、Camera Link Full