描述
产品概述
Fluke TiX580 是用于工业巡检、研发和预测性维护的高分辨率红外热像仪。640×480 探测器结合 SuperResolution、LaserSharp 自动对焦、MultiSharp 多点对焦和 IR-Fusion 图像融合，可在复杂设备区域获得便于分析和报告的热图像。
核心特点
- 640×480 红外探测器，共 307,200 个测温像素
- SuperResolution 可在仪器和软件中生成 1280×960 图像
- 测温范围 -20°C 至 1000°C，标称精度 ±2°C 或 ±2%
- 240° 可旋转镜头与 5.7 英寸触摸屏便于狭窄位置取景
典型应用
- 电力设备红外巡检
- 石化与工业预测性维护
- 研发试验与高温设备诊断
技术参数
| 探测器分辨率 | 640 × 480（307,200 像素） |
|---|---|
| 超分辨率 | 1280 × 960 |
| 测温范围 | -20°C 至 1000°C |
| 测温精度 | ±2°C 或读数的 ±2% |
| 热灵敏度 NETD | ≤50 mK（30°C 目标温度） |
| 标准镜头视场角 | 34° × 24° |
选型与询价
询价时请提供被测对象、关键量程、使用环境、所需探头或模块、软件与通信需求、校准证书要求、数量及期望交期，以便核对地区版本、完整订货号和标准配置。
常见问题
Fluke TiX580 适合哪些应用？
主要用于电力设备红外巡检、石化与工业预测性维护、研发试验与高温设备诊断。具体适用性仍需结合量程、准确度、接口和现场条件确认。
Fluke TiX580 询价时需要确认什么？
询价时请提供被测对象、关键量程、使用环境、所需探头或模块、软件与通信需求、校准证书要求、数量及期望交期，以便核对地区版本、完整订货号和标准配置。
资料说明：页面参数根据公开技术资料整理。不同地区、版本和选件可能存在差异，最终配置与供货信息以正式报价资料为准。
